圖1  Ceyear 6433P 光波元件分析儀（10MHz~110GHz）

隨著5G/6G光通信帶來(lái)的流量和速率的提升及物聯(lián)網(wǎng)、云計(jì)算帶動(dòng)數(shù)據(jù)中心的大規(guī)模建設(shè)，400G光模塊已成為下一代光通信網(wǎng)絡(luò)和新一代數(shù)據(jù)中心的主流方案，其核心的光芯片帶寬從50/67GHz逐步向110GHz演變。為解決大帶寬光芯片的頻響測(cè)試難題，思儀科技突破多項(xiàng)核心技術(shù)，重磅推出Ceyear 6433P光波元件分析儀(Lightwave Component Analyzer, LCA)，產(chǎn)品調(diào)制頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，頻率響應(yīng)重復(fù)性±1.2dB，可實(shí)現(xiàn)光芯片的帶寬、平坦度、電反射等頻響參數(shù)的測(cè)量。

光芯片研發(fā)和生產(chǎn)中，對(duì)帶寬、電反射等指標(biāo)的測(cè)試，可準(zhǔn)確評(píng)估芯片的性能。6433P依據(jù)被測(cè)芯片的類型，搭配相應(yīng)的光電/電光轉(zhuǎn)換模塊，采用超寬頻帶1.0mm同軸連接，構(gòu)建“微波-電/光-光/電-微波”的測(cè)試鏈路，形成針對(duì)電光及光電芯片的頻響測(cè)試解決方案，如圖2為電光芯片（電光調(diào)制器芯片）頻響測(cè)試解決方案。

圖2  電光調(diào)制器芯片頻響測(cè)試解決方案

6433P集成電電(E/E)、電光(E/O)、光電(O/E)和光光(O/O)四種測(cè)試功能模式，功能模式之間支持一鍵切換，方便用戶結(jié)合測(cè)試場(chǎng)景，實(shí)現(xiàn)電光芯片（EAM、EAL等）、光電芯片（PIN、APD等）、光光芯片（EDFA、SOA等）及電電芯片（放大器芯片、混頻器芯片等）頻響參數(shù)的精確測(cè)量，如圖3所示，以光電探測(cè)器芯片為例，6433P通過(guò)搭配探針臺(tái)、高頻探針，利用儀器自帶的校準(zhǔn)端面管理功能，提取高頻探針的s2p文件，將該文件利用射頻去嵌入功能，消除探針對(duì)測(cè)試鏈路的影響，完成被測(cè)件的測(cè)量。

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圖3  探測(cè)器芯片測(cè)試框圖

通過(guò)電光器件S11、S21參數(shù)及光電器件S22、S21參數(shù)的測(cè)試，利用多窗口對(duì)比、3dB帶寬分析等，用戶能獲取測(cè)試對(duì)象各頻點(diǎn)的反射參數(shù)、傳輸參數(shù)等頻響特性，滿足科研、產(chǎn)品線等測(cè)試需求。

圖4  探測(cè)器芯片的S21曲線

圖5  探測(cè)器芯片的S22曲線

6433P的調(diào)制頻率可下探至500Hz，滿足用戶低頻段測(cè)試需求；最小1Hz的頻率分辨率和最高200001點(diǎn)的測(cè)量點(diǎn)數(shù)，能夠帶來(lái)更豐富的頻點(diǎn)信息和更精細(xì)的測(cè)量結(jié)果；配置四端口機(jī)型可實(shí)現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收芯片對(duì)差分增益參數(shù)的測(cè)試需求；配備的LAN、GPIB遠(yuǎn)程控制接口及SCPI指令集，為系統(tǒng)集成及自動(dòng)化測(cè)試提供有力的保障。

6433P光波元件分析儀具有寬頻帶同軸覆蓋、測(cè)試功能豐富、一鍵式快速掃頻等優(yōu)點(diǎn)，具備出色的微波及光電特性。靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成，助力用戶解決光芯片頻響測(cè)試難題。