前言

電容器是儲(chǔ)存電量和電能（電勢(shì)能）的元件，在兩個(gè)導(dǎo)體間夾一層不導(dǎo)電的絕緣介質(zhì)，就構(gòu)成了一個(gè)基本電容器，不同種類的絕緣介質(zhì)，決定了電容器的容量及承受電壓能力。

電子電路中，電容器在調(diào)諧、旁路、耦合、濾波等電路中起著重要的作用。

電容器漏電流產(chǎn)生的原因是？

在電容器兩端加上電壓時(shí)，電容器就會(huì)儲(chǔ)存電荷，但是，電容介質(zhì)不可能完全絕緣，當(dāng)電容加上直流電壓時(shí)，電容器會(huì)有漏電流產(chǎn)生。

電容器漏電流的危害是？

大電容，尤其是電解電容、鉭電容、陶瓷電容（大容量）電容量通常較高，通常用在電氣設(shè)備的電源供應(yīng)器、開關(guān)電源及直流-直流轉(zhuǎn)換器中，在交流電整流電路用作平滑及緩沖直流信號(hào)。

電容器漏電流會(huì)隨著溫度的增加而增加，也會(huì)隨施加電壓的增大而增大，因此，電器產(chǎn)品在使用時(shí)的可靠性高低主要取決于該產(chǎn)品的漏電流大小和高溫時(shí)該產(chǎn)品的漏電流變化率。

特別是在無電阻保護(hù)的低阻抗開關(guān)電源電路和大功率脈沖充放電電路里使用時(shí)，該產(chǎn)品的上述特性將對(duì)電路可靠性影響非常大，幾乎是決定性的。

因?yàn)榇祟愲娐分写嬖陬l繁的浪涌電壓和浪涌電流，耐壓不夠和高溫時(shí)漏電流變化大的產(chǎn)品根本不能承受浪涌沖擊，瞬間就有可能被擊穿而失效或爆炸。

電容器漏電流正確測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí)

由于不同介質(zhì)特性及環(huán)境因素存在，自然界中不存在純凈的電容器，通常一個(gè)電容器由不同的部分組成，如圖1：

測(cè)試漏電流時(shí)，是在電容器兩端施加直流電壓Vs，然后用電流表測(cè)試通過電容器的電流，如圖2，由于雜質(zhì)的存在，實(shí)際電流有三個(gè)部分組成，如圖3：

由圖可見，實(shí)際上在測(cè)試的時(shí)候，測(cè)試的是總電流，而這總電流有三個(gè)分量，三個(gè)電流分量分別是：

1）Ip：流過絕緣電阻Rp的漏電流，也叫傳導(dǎo)泄漏電流

流過絕緣層、導(dǎo)體之間或從導(dǎo)體到地的電流。該電流隨著絕緣的惡化而增加，并在Id介質(zhì)吸收電流（見圖 4）消失后占主導(dǎo)地位。因?yàn)樗喈?dāng)穩(wěn)定且與時(shí)間無關(guān)，所以這是測(cè)量絕緣電阻的最重要的電流。

2）Ic：電容充電電流

電容兩端施加直流電壓時(shí)，對(duì)電容器進(jìn)行充電的電流，為瞬時(shí)電流，在電容兩端電壓充至測(cè)試電壓后下降。

低容量電容器，電容充電電流Ic高于傳導(dǎo)泄漏電流Ip，但通常在我們開始記錄數(shù)據(jù)時(shí)就消失了。因此，在記錄之前讓讀數(shù)提前穩(wěn)定很重要。

高容量電容器，電容充電電流Ic可能會(huì)持續(xù)很長時(shí)間才能穩(wěn)定下來。

3）Id：介質(zhì)吸收電流

由介電材料內(nèi)分子極化引起的電流，介電材料吸收分量由Rd和Cd，通常生成多個(gè)時(shí)間常數(shù)(Rd×Cd)。

該電流最初很高，電流幅度與Rd 的值成反比，會(huì)逐漸呈指數(shù)衰減至0。

高容量電容器或容性設(shè)備以及潮濕污染的絕緣時(shí)，電流下降時(shí)間會(huì)很慢。

電容器漏電流的計(jì)算